Die MCM-S02ABS Baugruppe dient als Trägerkarte für die beiden nAW1 Module Induktiv und Digital zum Inkrementalgeber Signalkonditionierung.
Trägerkarte für nAW1 Module
- ECU-Testing / HiL-Systeme
- Dauererprobung / EOL-Tests
- Prüfstands-Mess- und -Regeltechnik
- Rapid-Prototyping-Anwendungen
- Auswertemodul für Induktivgeber (mod_ind):
- 1 differentieller Signaleingang
- Eingangsamplitude 60mV bis 50 Vrms
- Eingangsfrequenz 120 kHz
- Auswertemodul für Inkrementalgeber (mod_dig):
- 3 differentielle Signalspuren
- Eingangsfrequenz je nach Ausführung 300 kHz oder 1,5 MHz
In Zusammenarbeit mit SMART TESTSOLUTIONS hat die ZF Friedrichshafen AG eine neue Prüfstandsgeneration entwickelt, die sich durch eine außerordentliche Flexibilität auszeichnet und dank einer schlanken Skriptsprache und spezieller Treiber leicht zu konfigurieren ist. Bei der Entwicklung des Systems konnten die Partner auf das bestehende Programm optimierter Systembaugruppen für die Messwerterfassung, Last- und Sensorsimulation zurückgreifen, was sich positiv auf die Kosten ausgewirkt hat. Lesen Sie mehr zu Aufgabenstellung und Lösung in unserem Anwenderbericht.
